通过对Si基集成铁电薄膜微结构、生长机理、金属/铁电及铁电/半导体界面等特性的系统实验与模拟研究。探索界面特性与漏电流、电容-电压特性、保持力及疲劳等特性的内在关联,设计制备低漏电流、高保持力Si基铁电薄膜系统,为提高Si基集成铁电器件性能及实现实用化的关键技术提供实验借鉴和理论依据。
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数据更新时间:2023-05-31
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