通过对100nm分辨率掩模版图的拓扑分析,建立识别关键线条以及可能发生相位冲突区域的算法,根据识别结果将掩模版图按照特定的要求剖分,合理安排相位区,从而建立一套100nm分辨率交替式移相掩膜的版图分层规则。将该分层规则和光学邻近效应修正软件相结合,直接应用于100nm分辨率掩模版的研制中,将极大提高光学曝光的分辨率求。并为今后设计具有自主知识产权的移相掩模版图分层设计软件打下基础。.交替式移相掩模
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数据更新时间:2023-05-31
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