碲镉汞中与表面有关的隧道电流机理的研究

碲镉汞是一种理想的红外探测器材料，与表面有关的电流过程是制约碲镉汞红外探测器性能的关键因素。本项目采用MIS 结构从实验和理论两方面研究碲镉汞中与表面有关的隧道电流机理，重点研究与表面态和量子化子能级有关的表面隧道过程及其机理，搞清楚表面隧道电流对器件电学性能的影响，指导工艺，为制备高性能的碲镉汞红外探测器提供依据。