碲镉汞红外探测器中的间接隧道电流的研究

本项目从实验和理论两方面研究了碲镉汞红外探测器中的间接隧道电流。首次采用新工艺制备了性能优良的双层介质结构（碲化镉+硫化锌）的碲镉汞MIS器件，这对解决探测器的表面钝化问题有重要的应用价值。首次报道了在实验上发现不同间接遂道过程的转变，即当温度降低时，间接隧道电流由热辅助过程向二级间接隧道过程转变。这种转变在研究与禁带态有关的隧道过程有重要的科学意义。结果还首次证实了材料中较浅的深能级杂质也会产生严重的间接隧道电流。提出了降低深能级杂质密度来有效提高器件低温工作性能的方案，对器件工艺有指导意义。本研究取得的成果不仅有较重要的科学发现和创新之处，而且为制备高性能的红外探测器提供了理论和实验依据。