面向高性能光电子器件制备的半导体晶片低温键合新途径、新技术的研究

基本信息
批准号:60576018
项目类别:面上项目
资助金额:20.00
负责人:黄辉
学科分类:
依托单位:北京邮电大学
批准年份:2005
结题年份:2008
起止时间:2006-01-01 - 2008-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:黄永清,王琦,陈斌,王兴妍,任爱光,崔海林,王文娟,胡丹,韩异凡
关键词:
晶片键合大面积低温GaAsInP
结项摘要

本课题属国际前沿课题,所提出研究的基于硫化物表面处理的低温晶片键合技术,采用硫脲溶液处理待键合晶片的表面,使得在较低的热处理温度下,实现GaAs/InP半导体晶片间的高质量键合;并且由于键合温度的降低,减少了热处理过程中由于两者热涨系数不同所导致的热应力,能够实现较大的键合面积,为该技术的实用化奠定基础。这种工艺同时具有环保、低成本的特点,它的研究成功将推动光电子集成的发展。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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