本课题属国际前沿课题,所提出研究的基于硫化物表面处理的低温晶片键合技术,采用硫脲溶液处理待键合晶片的表面,使得在较低的热处理温度下,实现GaAs/InP半导体晶片间的高质量键合;并且由于键合温度的降低,减少了热处理过程中由于两者热涨系数不同所导致的热应力,能够实现较大的键合面积,为该技术的实用化奠定基础。这种工艺同时具有环保、低成本的特点,它的研究成功将推动光电子集成的发展。
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数据更新时间:2023-05-31
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