随着集成电路制造工艺向着超深亚微米和纳米级推进,一方面存储器在SOC芯片中所占面积比重日益增大,另一方面存储器的缺陷密度不断上升,导致存储器的缺陷率直接影响到SOC芯片的成品率,从而使嵌入式存储器的自修复技术在提升SOC芯片成品率上发挥着日益重要的作用。本项目拟研究嵌入式存储器自修复方法的三个重要内容:1)针对高缺陷密度带来的诊断复杂性问题,研究嵌入式存储器的自诊断技术,以提供快速准确的故障定位能
{{i.achievement_title}}
数据更新时间:2023-05-31
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