Pb1-xGexTe是IV-VI族半导体PbTe和GeTe的赝二元合金材料,其铁电相变温度Tc随着Ge组分x的增加而升高。我们的研究表明:相应于结构相变,Pb1-xGexTe薄膜的折射率出现极大值。这一现象的直接结果是:在某一特定的环境温度,由Pb1-xGexTe材料在光学薄膜干涉滤光片中构成的高折射率层折射率温度系数可以通过改变Ge组分由负值变为正值,从而找到一种折射率温度系数完全可调的材料,使光学薄膜温度稳定性问题迎刃而解。.本课题的研究可以从根本上解决红外薄膜干涉滤光片性能低温稳定性这一空间遥感系统中的关键技术问题,如果能研制出无温漂滤光片可以直接应用于所承担的空间工程任务中。
{{i.achievement_title}}
数据更新时间:2023-05-31
基于被动变阻尼装置高层结构风振控制效果对比分析
脉冲直流溅射Zr薄膜的微结构和应力研究
吹填超软土固结特性试验分析
汽车侧倾运动安全主动悬架LQG控制器设计方法
长白山苔原带土壤温度与肥力随海拔的变化特征
铁电薄膜红外探测器稳定性的研究
离子束增强沉积二氧化钒薄膜的相变低温延展及红外应用研究
Ge/Si纳米薄膜红外探测材料的研究
铁电薄膜红外光限制效应及红外应用研究