电刺激小脑顶核抗鼠局灶脑缺血再灌注时神经元凋亡机理

采用线栓SHRs大鼠MCA局灶脑缺血/再灌注模型，运用神经生理、生化、病理、分子生物学等方法，以细胞内游离Ca2+、PKC、重要凋亡相关基因(bcl-2、bax、p53、ICE)、核因子NF-κB等为研究切入点，从细胞膜信号转导、细胞内重要凋亡相关基因mRNA及蛋白质表达、基因转录调控等方面入手，从整体、细胞、分子基因水平研究电刺激小脑顶核（FN）抗缺血半影区神经元调亡的机理。