一维金属纳米线结构和电学性能的尺寸效应的实验研究

基本信息
批准号:50671053
项目类别:面上项目
资助金额:58.00
负责人:朱静
学科分类:
依托单位:清华大学
批准年份:2006
结题年份:2009
起止时间:2007-01-01 - 2009-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:朱静,程志英,陈常强,刘晓华,方慧,田丰,莫日根,潘曹峰,施雨,刘金龙
关键词:
金属纳米线电子结构电学性能晶体结构尺寸效应
结项摘要

随着材料尺寸减小到纳米尺度(1-100nm),材料的结构和性能都可能呈现与块体材料不同的特征。一维纳米材料,可作为研究介观物理的良好系统、并且可能作为功能元件和连接部件用于纳米器件而受到重视。本研究组通过制备尺寸可控、晶体结构均一的金属纳米线和阵列,设计和建造能原位观察单根纳米线并测量其电学性能的装置,发展单根纳米线的结构和电学性能的测量方法,进行单根金属纳米线的晶体结构和电子结构的表征,测量单根纳米线的电学性能,了解尺寸变化对于金属纳米线结构和电学性能的影响,实验研究金属纳米线的结构和电学性能的尺寸效应,并建立物理模型给予解释。研究结果将申请专利2项,发表学术论文4-5篇。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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