第三代半导体材料SiC纳米结构物性的多尺度计算模拟

基本信息
批准号:10704014
项目类别:青年科学基金项目
资助金额:19.00
负责人:王治国
学科分类:
依托单位:电子科技大学
批准年份:2007
结题年份:2010
起止时间:2008-01-01 - 2010-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:邬劭轶,杨莉,陈中钧,聂锦兰,李登峰,蒲谨,李妮
关键词:
多尺度模拟尺寸效应物性SiC纳米结构
结项摘要

宽禁带半导体材料是当前科学研究的热点之一,本项目拟采用多尺度理论,在原子尺度上研究以宽带隙SiC为代表的第三代半导体材料纳米结构的热学、力学及光电等基本物理性质。首次在原子尺度上研究SiC纳米结构变形破坏过程以及尺寸、表面、加载速率等对材料本身力学性能和力学行为的影响,通过归纳总结其中蕴含的力学规律,将对纳米力学理论研究起到积极的促进作用。首次在原子尺度上研究SiC纳米结构的纳米尺度下的热传导特征。运用头算计算方法,从头算分子动力学方法研究尺寸、表面、应变及应力对SiC纳米结构电子能级的变化,揭示纳米材料电子结构的特征。模拟结果将用来解释实验现象,指导进一步实验。并为最终实现纳米材料及纳米器件的设计提供理论依据。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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