本课题着重研究亚0.1微米CMOS器件的新结构和关键工艺技术。提出了一种全新的自对准双そ峁梗捎枚晕薅ㄐ凸杞薪鹗粲盏己?向再结晶技术形成亚0.1微米的准SOI结构的CMOS器件,可以很好地抑制短沟道效应。同时研究相关的特殊工艺技术,包括多层介质.层的细线蹩淌从攵嗑Ч璧钠教够取W钪罩谱龀鲂阅芰己玫哪擅?级器件。
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数据更新时间:2023-05-31
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