绝缘体上硅(SOI)基片是光子器件和微电子器件集成的理想平台。本项目利用超高真空化学汽相淀积(UHV/CVD)系统,通过对激光辅助低温驰豫缓冲层生长工艺和动力学过程的研究,优化SOI基SiGe和Ge低温驰豫缓冲层的生长方案。通过SOI衬底上薄层单晶硅释放部分应力,抑制由于Si/Ge晶格失配产生的位错向上传播,将其压制在缓冲层与衬底界面附近,然后在SOI缓冲层上生长出低位错密度纯Ge薄膜。在此基础上
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数据更新时间:2023-05-31
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