从理论和实验两方面研究半导体及其低维结构的平面光学各向异性与表面亚损伤、合金自发有序以及界面C2v对称性的相互关系.半导体中平面光学各向异性是一个长期被忽视的问题,此研究可扩大半导体光学性质研究领域,为表征半导体及其低维结构的性能提供新的参数,这对于提高半导体器件的性能以及设计新型的光电子器件都具有重要意义
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数据更新时间:2023-05-31
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