超导体与半导体等功能材料晶体结构、微结构和缺陷的电子晶体学研究

用200 kV非场发射电镜结合电子晶体学图像处理技术，研究以高温超导体和Ⅲ-Ⅴ族半导体为主的晶体结构、微结构和缺陷。对于新的晶体材料着重于测定晶体中原子的位置，对于结构已知的材料着重于确定晶体缺陷的原子组态，为研究材料工艺与性能及结构之间规律、改善工艺、提高性能、探索新材料提供晶体结构方面的资料和依据。所涉及的电子晶体学图像处理技术是申请人等在完成多项国家自然科学基金中建立和发展的，特点是从实验所得显微像出发，还原像中被畸变的结构信息，揭示出原来看不到的结构细节。在测定未知晶体结构方面，摆脱了前人方法中需要先对被测结构有初步了解的限制。研究结果将远超越常规方法所得。此外，从理论和实验上借助电子晶体学图像处理研究改善显微像质量的极限问题，可望在推进＜实用高分辨电子显微学＞的发展中起重要作用。