基于扫描自测试的扫描链构造技术

基于扫描的BIST在工业界有非常广泛的应用。已有的基于扫描的自测试方法大都采用STUMPS并行扫描链结构。这类技术存在在扫描链长度及扫描链个数取一折衷以达到令人满意的测试效率。本项目将采用扫描链划分技术将扫描链划分成多个段, 同时不增加测试输入数。该项目还将扫描触发器分成不同的组, 每组扫描触发器采用不同概率分布的信号来控制。这样, 在测试过程中, 可随机地插入接收周期, 因而可大大地提高测试效率。本项目将提出一种BIST策略, 该策略测试码产生器的每一位可驱动多条扫描链, 因而可有效地降低测试输入数及扫描链的长度。自测试的测试功耗是非常严峻且急待解决的问题。本项目还将提出一种称为扫描森林的扫描结构, 不同于常规的扫描链,每个扫描触发器可驱动多个后继, 并且每一扫描树由一原始输入来驱动。采用扫描森林可成百成千倍地降低基于扫描BIST的测试功耗。