半导体压力传感器温度特性的研究

基本信息
批准号:69676036
项目类别:面上项目
资助金额:10.00
负责人:张维新
学科分类:
依托单位:天津大学
批准年份:1996
结题年份:1999
起止时间:1997-01-01 - 1999-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:毛赣如,姚素英,陈德里,曲宏伟,田瑞芬,白阳
关键词:
温度特性半导体压力传感器多晶硅
结项摘要

研究半导体压力传感器的温度特性。提高传感器的工作温度,降低传感器的温度系数。采用二氧化硅介质膜隔离代替Pn结隔离,多晶硅作应变电阻。研究多晶硅掺杂浓度对传感器温度特性的影响,优化了最佳掺杂浓度。采用微机械技术制作硅杯,研究了解决了各向异性腐蚀中的削角补偿现象。对复合膜的电学特性和热力学特性进行了研究。研制出性能良好的多晶硅高温压力传感器,工作温度可达250℃,温度系数比单晶硅压力传感器降低了一个数量级,压力量程为1-6MPa。较好地完成了预期计划。其研究成果达到国际先进、国内领先。在国内外学术会议和刊物上发表相关的学术论文共9篇。研究成果不但具有重要的学术价值,而且有广泛的应用前景。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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