利用MOCVD方法在GaAs衬底上生长FeSe外延薄膜,在通过选择ZnSe缓冲层和优化生长参数获得高质量FeSe薄膜基础上,围绕FeSe中的基础性和关键性的物理问题开展以下几方面研究(1) FeSe材料的带隙Eg的重新确定,拟用磁光光谱包括磁光Kerr及MCD等,从实验上给出FeSe的半导体能带结构参数.(2) FeSe中高浓度载流子来源的缺陷分析及有效控制.(3)FeSe中的金属-绝缘体转变研究
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数据更新时间:2023-05-31
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