以兼容扫描共焦显微镜、大围工作台、亚微米激光干涉仪组成的掩膜板测量系统,能满足微电子近期发展对几何参数测量值溯源和国际比对的要求。它集中了研制单位相关创新成果和基础工作。从而具有先进的精度和测量速度指标。不仅可作为国家标准,也可推广到工业部门。对微电子、微机械、超精密加工和精密机械及仪器的发展具有重要作用。.
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数据更新时间:2023-05-31
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