AMS方法测定中微子探测器材料中的放射性杂质研究

太阳中微子、宇宙暗物质以及稀有粒子的探测是国际上重要研究课题。实验中，探测器材料内以及探测器屏蔽材料内存在129I,40K以及U,Th系列等放射性核素，它们产生的放射性严重地影响对中微子以及暗物质的测量。然而，由于这些核素的放射性半衰期长、含量低，采用衰变计数方法和常规质谱方法等都难以实现对放射性核素含量的测量。本项目拟基于超灵敏加速器质谱学方法，建立对中微子探测器材料（包括固体和液体）中放射性杂质含量的测量技术，实现对40K 和129I等放射性核素含量的测量。