高速SIP/PCB系统中的SSN噪声和ISI干扰分析
基本信息
批准号：60672027
项目类别：面上项目
资助金额：27.00
负责人：李玉山
学科分类：
依托单位：西安电子科技大学
批准年份：2006
结题年份：2009
起止时间：2007-01-01 - 2009-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：初秀琴,尚玉玲,李丽平,贾琛,张木水,刘洋,王崇剑,刘兴伟
关键词：
封装系统同步开关噪声(SSN)信号完整性(SI)符号间干扰(ISI)
结项摘要
封装系统(SIP)和PCB系统(PCBS)是芯片外系统集成的重要载体，其中由高速互连引起的共性信号完整性(SI)问题异常尖锐。国内电子集成系统研制单位正感受到严峻的SI问题困扰。同步开关噪声(SSN)导致电路故障和工作失误；符号间干扰(ISI)造成数据失真和严重误符号率(SER)。本项目选择这两类SI对象，努力发掘并揭示噪声/干扰的成因途径及危害机理。我们从互连建模入手，提出分析SSN噪声的系统总线级分级全波蒙特卡罗方法；给出基于快速FDTD算法的ISI干扰眼图分析技术；开拓研究改善SI性能的电路和波形设计方案。本项目对两类噪声/干扰的有效分析技术，拥有坚实的工程背景。研究成果可以指导高速高密度SIP/PCBS的互连网络及滤波设计，应用前景广阔。
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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