MBE-SPM系统低维结构加工和物理研究

基本信息
批准号:69776016
项目类别:面上项目
资助金额:13.00
负责人:封松林
学科分类:
依托单位:中国科学院半导体研究所
批准年份:1997
结题年份:2000
起止时间:1998-01-01 - 2000-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:封松林,刘锦湘,陈宗圭,李树英,吉秀江,王志明,赵谦,陈枫
关键词:
低维结构扫描探针显微镜分子束外延
结项摘要

将具有原子级分辨本领的UHV-SPM与具有原子级剪裁功能的MBE联接起来,解决超高真空扫描探针系统(UHV-SPM)同分子束外延(MBE)系统联接的技术问题。实现实时观测样品生长过程中表面形貌的演变。利用SPM观测表面界面的精细原子结构,反馈优化MBE的生长参数。集中探索SPM准原位检测自组织量子点结构外延表面形貌等诸多物理和材料生长问题。建立InAs、InGaAs自组织量子点材料MBE生长参数,研究了在低温GaAs外延层上生长量子点和InGaAs覆盖层对量子点应力的减弱作用,使用量子点均匀性得到改善。成功获得室温上1.3微米发光、PL谱半峰宽仅为19.2meV、激光态的发光峰清晰可辨的长波长量子点材料。制备了室温连续激射波长范围覆盖0.6-1.0微米波段的室温连续激射InGaAs/GaAs量子点激光器。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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