本课题主要研究蚂蚁算法在大规模集成电路测试中的应用,并结合其它算法,例如遗传算法和确定性算法等等,研究出一种高效的测试生成算法,为采用内建自测试及边界扫描测试结构的MCM提供高效的测试矢量,以解决MCM大规模、高密、高复杂性的测试难题,提高MCM可测性及测试效率。
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数据更新时间:2023-05-31
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