缺失型DMD基因内连接片的克隆和缺失假设的验证

研究了中国人DMD基因外显子缺失分布特点和DMD基因中央缺失热区断裂点分布特点及内含子的不稳定性，外显子缺失的总检出率为51%，中国人第50和51号外显子的缺失较欧美人多见，断裂点的分布有在中央缺失热区3’端聚集的倾向。测定了DMD基因第51号内含子的全序列并分析该内含子的序列特点。第51号内含子的长度为38725bp，GC含量为36.34%，重复序列占37.53%。重复序列包括SINEs，LINEs，LTR，DNA elements，CA重复序列。克隆了一例第51外显子缺失后形成的连接片段，确定该患者5’端的断裂点位于THEI内，3’端的断裂点位于12序列内。提出了以染色质结构、转座成分、非同源末端连接为主轴的DMD基因缺失的非同源错接机制。该机制尚有特在样本病例证实。