以金属单晶的低指数面和有序的台阶面作为衬底,用热蒸发等方法,制备有机半导体化合物的单层和多层有序薄膜。用x光衍射(XRD)、低能电子衍射(LEED)和扫描隧道电镜(STM) 表征有机半导体薄膜的有序结构。用x光电子能谱(XPS) 、紫外光电子能谱(UPS)和角分辨紫外光电子能谱(ARUPS)测量有机半导体有序薄膜的电子结构,获得有关有机半导体与金属衬底之间界面态的信息。实现对有机半导体有序薄膜的能带结构以及界面电子态进行精确的描述。获得有关衬底缺陷对有机半导体有序薄膜生长影响的信息,寻找能够控制和优化有机化合物薄膜的光电性能的途径。用有机半导体的能带理论解释有机半导体光电现象,为改进有机半导体器件性质(诸如降低界面上载流子注入势垒的高度;改进欧姆接触;提高器件稳定性等)和开拓有机半导体材料新的应用领域提供有意义的指导。
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数据更新时间:2023-05-31
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