低维半导体材料的压力光谱

基本信息
批准号:69576030
项目类别:面上项目
资助金额:9.00
负责人:刘振先
学科分类:
依托单位:中国科学院半导体研究所
批准年份:1995
结题年份:1998
起止时间:1996-01-01 - 1998-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:韩和相,徐士杰,张江泉,袁之良,丁琨
关键词:
低维半导体材料压力光谱
结项摘要

本课题是在"七五”重大项目成果的基础上针对土建工程个性的关键研究。主要成果 包括在(1)基于土建实例的设计系统。研制开发了基于神经网络的空间网络结构初步设计的专家系统SPRED和高层建筑结构初步设计的专家HIPRED,前者已在二十多项工程设计实践中采用,其中包括首都机场新候机楼和北京西客站等重点工程,并获得北京市科技进步一等奖;后者由于有效地解决了设计方案要的生成,有国际会议交流中引起了广泛的关注。(2)工程规范的计算机和理技术,利用知识工程手段,把结构鉴定评佑补损强加固的规定圣文的内涵揭示出来,并编入RAISE系统,获得教委科技进步二等奖,并被建设部评为全国推广使用软件。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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