在对AlGaInP/GaAs异质结进行材料结构和能带结构设计和理论计算的基础上,生长了这种HBT材料并制得了器件。实验上验证了这种HBT具有优越的高温特性,673K时直流放大倍数与室温时相比只下降了10%;并且利用半导体物理测试手段对这种异质结材料作了测试,分析其对器件性能的影响;同时高温测试时利用RTP设备做到了对器件性能变化的实时跟踪,经SIMS分析得出了器件高温下的失效机理为欧姆接触金属的穿透;采用Ti/Pd/Au,W/Ti/Au作欧姆接触金属,改善了器件的热稳定性。
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数据更新时间:2023-05-31
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