半导体表面铁薄膜面内磁各向异性的X射线磁性线二色研究
基本信息
批准号：10274073
项目类别：面上项目
资助金额：25.00
负责人：王劼
学科分类：
依托单位：中国科学技术大学
批准年份：2002
结题年份：2006
起止时间：2003-01-01 - 2006-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：潘国强,王峰,谢长坤
关键词：
铁磁半导体表面X光磁性线二色各向异性
结项摘要
本课题应用软X射线磁性线二色吸收谱实验技术研究铁膜在半导体表面的磁特性。作为磁电友У难芯康悖現e/GaAs体系是一个很好的模型。但对于bcc铁存在单轴磁各向异性还没有明返奈锢砘啤Ｍü芯肯Ｍ钊肓私釬e膜的磁各向异性的微观起源。另一方面，该技术的ⅲ岷先鞽射线磁性圆二色吸收谱，为深入了解铁磁和反铁磁构成的复杂体系提供实验手段。
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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