反铁磁/铁磁双层纳米膜界面磁特性的X射线磁性圆二色研究

界面磁性是当前自旋电子学基础研究的核心问题之一，而实现界面磁性的探测是设计和实现自旋电子器件的关键。然而，由于探测和分离出界面信号的困难以及研究体系的多元素特点，寻求建立一种能够直接探测界面磁性且具有元素分辨能力的实验方法，成为人们的追求目标。本项目根据出射电子的逃逸深度和同步辐射X射线磁性圆二色(XMCD)能够给出特定元素磁特性（轨道磁矩、自旋磁矩）之特点，依托国家同步辐射实验室的XMCD站，建立部分电子产额的XMCD探测技术（PEY-XMCD），实现界面磁性的直接探测，为我国科学工作者提供一种新的磁性测试手段。利用PEY-XMCD研究具有反铁磁/铁磁双层膜结构的NiO/Co纳米膜界面Co原子的磁特性，并结合掠入射荧光XAFS获得的界面Co原子的电子结构和几何结构，明确界面Co原子的磁特性与其电子结构和几何结构的关系，为研究反铁磁/铁磁双层膜中产生交换偏置效应的微观机理提供实验依据。