本项研究将围绕高速半导体光电子器件的测试和优化设计中的一些基础问题展开,主要研究高速光电子器件频率响应非线性特性和器件内部微波与光波相互作用的机理;研究如何将微波网络分析仪测试与小信号测试方法相结合,解决小信号和大信号测试方法的关键技术问题,实现光电子器件高频响应特性的无损伤测试;解决与提高器件高频特性有关的器件结构优化设计和封装技术基础问题。.随着光通信速率的不断提高和带宽的不断增宽,光电子器件
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数据更新时间:2023-05-31
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