将现有的原子力显微镜改进为兼有原子力显微镜,摩擦力显微镜和扫描隧道显微镜功能的新型扫描探针显微镜,仪器功能齐全,分辨率高用标准样品对扫描探针显微镜的形改进行了标室;通过软件开发利用E反Y向反描方向,将摩擦力信号从横向力信号中提取出来,并利用有限之计算等方法,对摩擦力大小进行了标定,计算出微摩擦系数,对磁记录介质的表面形统分形维数,微摩擦特性进行了测量,分析了微摩擦特性及微接触状态。对Au膜、Teflon/si3N4膜MoS2、DLC膜的表面形统,微观摩擦磨损性能做了测量,找出了薄膜的微摩擦磨损机理与强构的关系。此科还对光盘。LB膜,AS(+)、B(+)离子注入硅的微观摩擦磨损性能进行了评定,初步探索归纳出一些微观摩擦学的基本规律。
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数据更新时间:2023-05-31
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