由于极性GaN在〈0001〉方向存在较强的自发极化和压电极化,产生高强度的内建电场,造成电子和空穴分离等不利影响,阻碍GaN器件性能进一步提升。近年来,众多研究者对半极性和非极性GaN材料与器件进行了研究。本项目拟进行Si衬底半极性和非极性GaN基材料生长及LED研制。主要研究内容有:制备适合半极性和非极性GaN生长的Si图形衬底;侧向外延生长高质量半极性和非极性GaN薄膜;研究极化强度对GaN基材料及其量子阱等结构性能的影响;研制Si衬底半极性或非极性GaN基LED外延片。.本项目通过在低成本的Si衬底表面制备图形,利用GaN在Si(111)面侧向外延,有望生长出高质量的半极性和非极性GaN基材料,减少极化强度对材料和器件的影响,为大尺寸Si衬底上高性能半极性和非极性GaN基器件研制做出贡献。项目还将深入研究极化强度对材料和器件性能的影响机制,为设计GaN基器件结构提供实验和理论依据。
由于极性GaN在〈0001〉方向存在较强的自发极化和压电极化,产生高强度的内建电场,造成电子和空穴分离等不利影响,阻碍GaN器件性能进一步提升。近年来,众多研究者对半极性和非极性GaN材料与器件进行了研究。本项目进行Si衬底半极性和非极性GaN基材料生长研究,为Si衬底上高性能半极性和非极性GaN基器件研制做出贡献。主要研究内容有:制备适合半极性和非极性GaN生长的Si图形衬底;侧向外延生长高质量半极性和非极性GaN;研究极化强度对GaN基材料及其量子阱等结构性能的影响;研制Si衬底半极性或非极性GaN基LED外延片。.通过本项目的实施,在低成本的Si衬底表面制备出了适合半极性和非极性GaN材料生长的图形,利用GaN在Si(111)面侧向外延,在Si衬底生长出了高质量的半极性和非极性GaN基材料,研究了Si衬底上不同极性GaN基LED的性能差异,表明Si衬底上生长的非极性GaN基LED具有更好的性能,深入研究了极化强度对材料和器件性能的影响机制,为设计GaN基器件结构提供实验和理论依据。在项目的资助下,课题组还采用设计制备的Si图形衬底,成功生长出排列有序的GaN非极性纳米线和InGaN/GaN核壳结构纳米线,并实现了对其Micro-PL特性的调控,在较低激光阈值(500kw/cm2)下产生受激发射,创新研制出高性能GaN基纳米紫外探测器。
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数据更新时间:2023-05-31
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