高角度分辩率电子背散射衍射分析技术研究
基本信息
批准号：50571049
项目类别：面上项目
资助金额：26.00
负责人：安迪
学科分类：
依托单位：清华大学
批准年份：2005
结题年份：2008
起止时间：2006-01-01 - 2008-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：蒋佳,姚宗勇,杨婧,王维
关键词：
取向差图片处理EBSD
结项摘要
电子背散射衍射(EBSD)技术已广泛应用于材料微区晶体结构及取向的研究，提高该技术对晶体取向测定的角分辨率对于许多材料低应变行为的表征具有重要的意义。本项目研究的主要目的是改进用商业化系统采集的EBSD数据进行晶体取向及取向差测定的角度分辨率。该研究主要从两个方面进行：一方面将针对标准电子背散射衍射(EBSD)取向成像图方法。改进取向噪声函数的表征，并运用由此得到的信息改善后处理过滤器，从而提高EBSD的角度分辨率。另一方面是用现有的硬件进行EBSD花样数据采集，但是利用全新的软件分析工具进行取向差异的精确标定和分析，目标是将分辨率提高到0.1 。
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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