基于低功耗内建自测试的可测性设计方法研究
基本信息
批准号：60176018
项目类别：面上项目
资助金额：20.00
负责人：时龙兴
学科分类：
依托单位：东南大学
批准年份：2001
结题年份：2004
起止时间：2002-01-01 - 2004-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：陆生礼,胡晨,吴建辉,凌明,杨军,李锐
关键词：
低功耗可测试性设计内建自测试
结项摘要
本项目主要研究低功耗内建自测试结构并针对相应的结构研究其测试算法，并研究在集成电路设计流程中实现低功耗可测试性设计的算法。通过上述研究，能有效降低集成电路的测试功耗，从而提高集成电路的可靠性，降低其封装成本，缩短集成电路的低功耗可测试性时间。
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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