正电子寿命－动量关联技术(AMOC)与多孔硅微结构研究
基本信息
批准号：10575112
项目类别：面上项目
资助金额：36.00
负责人：王宝义
学科分类：
依托单位：中国科学院高能物理研究所
批准年份：2005
结题年份：2008
起止时间：2006-01-01 - 2008-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：孔祥成,章志明,张兰芝,王平,王人松,张哲
关键词：
多孔硅正电子寿命－动量关联电子偶素微结构
结项摘要
本项目拟建立正电子寿命－动量关联测量技术，并运用这一新的测量分析方法，以正电子在多孔材料中形成的正电子素作为探测多孔硅孔隙表面状态以及孔隙内部电子动量分布的微探针，通过研究多普勒展宽能谱随时间的变化、电子偶素形成和热化过程以及电子动量分布随时间的变化过程，对多孔硅材料微观结构进行表征。同时，结合二维符合多普勒测量方法，系统研究吸附不同杂质原子对多孔硅孔隙性质的影响，研究和探讨多孔硅发光机制以及宏观特性的微观机理。项目的完成对完善正电子谱学测量方法以及今后在北京慢正电子强束流系统建立该方法都具有积极的意义。
项目摘要
项目成果
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暂无此项成果
数据更新时间：2023-05-31
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