用显微拉曼光谱技术,测量半导体微器件中掺杂注入浓度,缺陷损伤和应力等参数在微米尺度上的三维分布,以及确定低维纳米材料的本征拉曼谱及其与材料特性的关系;并进行高效廉价和使用方便的拉曼谱仪的原型机研究。
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数据更新时间:2023-05-31
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