X射线光学元件在工作条件下的性能检测方法研究

基本信息
批准号:11805259
项目类别:青年科学基金项目
资助金额:28.00
负责人:张增艳
学科分类:
依托单位:中国科学院上海应用物理研究所
批准年份:2018
结题年份:2021
起止时间:2019-01-01 - 2021-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:金利民,薛莲,高超,屈斯诗,邓明君
关键词:
X射线同步辐射光学检测散斑
结项摘要

Optical elements are important component of the synchrotron radiation beam line, its performance will directly affect the whole performance of the beam line. With the improving of the performance of synchrotron radiation, the higher quality of optical elements is required. Testing the quality of the optical elements is very vital in improving the performance of synchrotron radiation beam line and ensure the performance are meet the expected. Visible light source is mostly used in the traditional ex-situ optical metrology methods. The installation stress and thermal deformation caused by synchrotron radiation would seriously affect their surface quality, so the ex-situ test results can not directly show the actual surface quality of optical elements after on-line installation. Therefore, the performance test of optical elements under working conditions are critical important to ensure the performance indicators of beam lines. It can meet the urgent need for in-situ measurements of high performance optical elements. The project can provide a key technical support for the construction of high-performance beamlines at Shanghai synchrotron radiation facility. And it will also contribute to the construction and development of advanced light source in China.

光学元件是同步辐射光束线的重要组成部分,其性能会直接影响整条束线的性能。随着光源性能的不断提升,对光学元件提出了更高的要求。对光学元件的检测在提高同步辐射光束线性能,确保其性能达到预期等方面起至关重要的作用。传统的离线检测方法大多使用可见光光源,而安装应力和同步辐射光引起的热形变等会严重影响光学元件的表面质量,因此离线检测结果无法反映光学元件在线安装通光后的实际性能。因此实现对光学元件工作条件下的性能检测是确保光束线性能亟待解决的关键技术。X射线近场散斑技术是国际上才兴起的研究热点,可在工作状态下高精度的检测光学元件。本项目拟在上海光源X射线光学测试线上开展光学元件工作条件下的性能检测方法研究,建立和发展一套方便快捷优于30nrad分辨率的在线检测方法,以满足亟待解决的同步辐射高性能光学元件工作条件下的检测需求,为上海光源线站工程建设提供保障,为推动国内先进光源的建设和发展做出贡献。

项目摘要

光学元件是同步辐射光束线的重要组成部分,其性能会直接影响整条束线的性能。传统的离线检测方法大多使用可见光光源,而安装应力和同步辐射光引起的热形变等会严重影响光学元件的表面质量,离线检测结果无法反映光学元件在线安装通光后的实际性能。对光学元件在工作条件下的性能进行检测对保证光束线的通光性能具有重要意义。本项目在上海光源X射线光学测试线上开展了光学元件工作条件下的性能检测方法研究,建立和发展了一套基于散斑的在线检测方法,分辨率优于5nrad,达到了项目预期指标。该方法已经成功应用于上海光源X射线光学测试线上,可以实现对光学元件高分辨的在线检测。同时该检测系统的搭建也可以为国内先进光源技术的发展提供优质的工作条件下的检测平台。

项目成果
{{index+1}}

{{i.achievement_title}}

{{i.achievement_title}}

DOI:{{i.doi}}
发表时间:{{i.publish_year}}

暂无此项成果

数据更新时间:2023-05-31

其他相关文献

1

Intensive photocatalytic activity enhancement of Bi5O7I via coupling with band structure and content adjustable BiOBrxI1-x

Intensive photocatalytic activity enhancement of Bi5O7I via coupling with band structure and content adjustable BiOBrxI1-x

DOI:10.1016/j.scib.2017.12.016
发表时间:2018
2

气相色谱-质谱法分析柚木光辐射前后的抽提物成分

气相色谱-质谱法分析柚木光辐射前后的抽提物成分

DOI:10.14067/j.cnki.1673-923x.2018.02.019
发表时间:2018
3

基于全模式全聚焦方法的裂纹超声成像定量检测

基于全模式全聚焦方法的裂纹超声成像定量检测

DOI:10.19650/j.cnki.cjsi.J2007019
发表时间:2021
4

感应不均匀介质的琼斯矩阵

感应不均匀介质的琼斯矩阵

DOI:10.11918/j.issn.0367-6234.201804052
发表时间:2019
5

基于图卷积网络的归纳式微博谣言检测新方法

基于图卷积网络的归纳式微博谣言检测新方法

DOI:10.3785/j.issn.1008-973x.2022.05.013
发表时间:2022

相似国自然基金

1

波前调制法在同步辐射硬X射线光学元件在线检测中的应用研究

批准号:11605279
批准年份:2016
负责人:薛莲
学科分类:A3009
资助金额:26.00
项目类别:青年科学基金项目
2

X射线自由电子激光薄膜光学元件抗损伤性能研究

批准号:11875203
批准年份:2018
负责人:李文斌
学科分类:A3008
资助金额:66.00
项目类别:面上项目
3

基于LIGA技术的空间X射线成像元件微缝光学的研制和性能研究

批准号:U1631113
批准年份:2016
负责人:张天冲
学科分类:A3303
资助金额:48.00
项目类别:联合基金项目
4

软X射线透射式多层膜偏振光学元件研究

批准号:60378021
批准年份:2003
负责人:王占山
学科分类:F0508
资助金额:22.00
项目类别:面上项目