具有高慢化效率和寿命测量功能的新型正电子束研究

本项目致力于发展一种具有高慢化效率和正电子寿命测量功能的新型正电子束。主要研究内容为：1、研究高质量固态氖的制备技术和慢化体的几何设计，力争将Na-22 放射源发出的高能正电子慢化为几eV的慢正电子的效率达到约1%；2、研究用正电子入射到样品表面发射的二次电子作正电子湮没寿命测量的起始信号，使正电子束具有正电子寿命测量功能和较好的时间分辨率；3、将上述两种技术结合，设计新型正电子束。这种束将具有慢化效率高、正电子束流强、放射源使用期限长，并能测量正电子寿命、多普勒展宽和符合多普勒展宽等多种功能。将应用此束来研究如高聚物/金属涂层（如飞机表面油漆）的表面界面缺陷及早期老化失效的机理，以及在超大规模集成电路有重要作用的低介电常数SiO2 薄膜中的纳米孔洞大小、浓度、连通性、孔洞率，并建立介电常数与孔洞特性间的关联等有重要应用的前沿课题。