电气石热释电性能机理研究

以晶体化学、晶体物理学理论为指导，以单晶X射线衍射为主要测试手段，通过对不同成分以及氧化、还原条件下热处理前后的铁、镁电气石进行系统的晶体结构分析和热释电性能测定，研究电气石成分（铁、镁含量及Fe2+/Fe3+）－结构（各种离子配位多面体特别是铁、镁离子配位多面体扭曲）－热释电性能关系，探讨其热释电性产生的机理及影响因素，为电气石的应用提供理论依据。