高密度毫米波单片集成电路的封装效应及其物理表征

基本信息
批准号:69871007
项目类别:面上项目
资助金额:14.00
负责人:戎敖生
学科分类:
依托单位:东南大学
批准年份:1998
结题年份:2001
起止时间:1999-01-01 - 2001-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:于东海,徐伟弘,钱澄,王华欣,曹静,陈建业,陈行浩,郑博宇,杨衡
关键词:
集成电路封装效应电磁相互作用
结项摘要

以宏观电磁场理论为基础,建立适宜的数学物理模型,应用时域数值模拟方法和TDR测量技跸嘟岷希氐阊芯浚憾嗖愣颜煌咂侥?榻峁沟姆庾靶в?包括同步开关噪声的起源及抑制措施);信号在MCM互连线中的传输特性;芯片倒置封装对互连结构的作用和要求;有源器件和电路的电磁相互作用。为毫米波单片集成电路的模块化设计提供理论依据。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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