研究一种基于微拉伸(micro-tensile)原理的薄膜力学性能测试方法,以单层及多层自由(free-standing)薄膜为测试对象,以MEMS致动器为加载部件,应变则由扫描探针显微镜(SPM)实时在位测得。藉由微应力及微应变的高分辨率高精度测量,该方法能够大大提高薄膜材料力学性能测试的分辨率和精度。同时,该方法获得的微观材料轴向应力-应变关系数据,可以对其它薄膜力学性能测试方法,特别是现有的大量使用的商用纳米压痕仪/硬度计、激光声波测试仪等进行校准、标定和进一步开发。可以预计,本项目的开展,对改善薄膜质量控制,进而提高我国当前MEMS及其它微纳米元件的设计与制造水平起到良好的推动作用。
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数据更新时间:2023-05-31
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