新型GaN基异质结构高压功率开关器件研究

基本信息
批准号:60806004
项目类别:青年科学基金项目
资助金额:10.00
负责人:胡国新
学科分类:
依托单位:中国科学院半导体研究所
批准年份:2008
结题年份:2009
起止时间:2009-01-01 - 2009-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:王晓亮,李建平,张明兰,唐健,侯奇峰
关键词:
功率开关器件GaN异质结构高频高压低损耗
结项摘要

拥有二维电子气导电机制的GaN异质结构材料,在制备高温、高压、高速、低损耗、抗辐照功率开关器件方面优势显著。基于GaN异质结构材料的功率开关器件工作频率达MHz范围;特征通态电阻只有Si器件的百分之一,SiC器件的五十分之一,符合当前电力系统高频化和低损耗的发展方向。此外,由于GaN材料本身的耐高温、抗辐照、耐腐蚀性能,也使此类器件具备了在恶劣环境条件下使用的潜力。本项目以研究解决新型GaN基异质结构材料和电力电子器件制备的关键科学问题为主要目的,主要研究内容包括:适用于功率开关器件的新型异质结构材料研制及其性能表征;GaN基异质结构功率开关器件的结构设计、参数模拟、器件工艺优化等相关内容。研制出拥有自主知识产权的GaN基异质结构功率开关器件。.本项目属于新兴交叉领域,国际上的研究工作处于起步阶段,国内未见相关报道,项目的实施将为GaN异质结构材料在电力电子器件中的应用奠定基础。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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