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数据更新时间:2023-05-31
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新型半导体材料及其器件的电检测磁共振技术
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半导体及其微结构中杂质和缺陷的局域态研究
GaN半导体中的残留杂质和本征缺陷
半导体混晶中深能级杂质与缺陷