电子辐照ＳiＯ2--Ｓi结构中的电离缺陷与能量沉积
基本信息
批准号：18870150
项目类别：面上项目
资助金额：6.00
负责人：靳涛
学科分类：
依托单位：中国科学院新疆物理研究所
批准年份：1988
结题年份：1991
起止时间：1989-01-01 - 1991-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：马忠权,伍俊杰,张兴发,黄建明
关键词：
能量沉积电离缺陷电子吸收剂量
结项摘要
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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