CdZnTe是最有发展前途的室温半导体X,gamma射线探测器之一,目前应用中存在的主要障碍是难以制备大体积优质单晶,晶体缺陷造成的材料迁移率寿命乘积降低,使探测器性能变坏;另外尚缺乏材料抗辐照损伤能力的实验数据和综合评价。本项目用正电子湮没技术对CdZnTe晶体辐照缺陷进行深入研究。精确测量辐照前后的正电子湮没寿命谱;通过控制工艺,有意识地引入一系列不同浓度的空位型缺陷,研究其正电子湮没谱特征;
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数据更新时间:2023-05-31
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