在VLSI电路中,深亚微米及多层金属布线技术的普遍采用和工作频率的不断增高使互连及衬底寄生效应对电路性能产生重要以致决定性的影响,并将在一段时间内持续下去。本课题的研究内容有:全芯片级互连参数提取,衬底寄生分析,高精度自适应计算及相关的串/并行惴ā4丝翁饽谌莶坏畈构诳瞻祝彩枪噬暇哂刑粽叫缘难芯咳鹊恪?..
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数据更新时间:2023-05-31
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