电光联合测量研究PLS纳米复合物局部放电与介电性能

通过插层复合技术制备聚合物/层状硅酸盐（PLS）纳米复合物，由于有机/无机相之间良好的相容性，可以在一定尺度范围内形成准均匀相结构，因此，可以减少局部放电发生的几率。同时，层状硅酸盐可以提供界面势垒和深陷阱，吸收并消耗放电所产生高能粒子的能量，从而阻止了复合物体内局部放电的发展和电树枝的扩展，可以从根本上提高聚合物绝缘的长期绝缘强度和使用寿命。.利用超高频局部放电和光学联合检测技术，以及宽频介电谱，热激电流谱，动态力学谱和SEM或AFM等测量技术，研究聚合物-层状硅酸盐(PLS)纳米复合物在高电场长期作用下，微观结构形态及宏观介电性能的变化规律。建立材料的微观、介观结构与宏观介电性能之间的关系。为纳米复合材料向电气绝缘领域的应用，提供科学依据和基础数据。