结合原子力显微镜（AFM）的纳米结构与器件的电学特性研究

本项目将具有自己创新特色的Q-BOX技术原子力显微镜(AFM)运用到纳米结构与器件的电学特性研究中，对在基底上躺卧的纳米碳管器件和垂直生长的纳米金属线结构等进行广泛深入的电学特性测量，研究探讨纳米材料的电学性能与诸要素的关系。本研究工作将结合AFM的电学特性测量技术引入到纳米材料电学特性研究领域中，从而克服目前流行测量手段的局限，并且利用它要求实验成本较低的优势，和能够获得更多有用信息的特点，来推动这一领域的研究工作，最终为探索进一步实现可控纳电子放大、可控纳电子运算的器件创造条件。