VLSI与复杂PCB电路并行故障诊断理论与方法研究

为在阵列机上进行并行故障诊断，首先将诊断目标依逻辑相关性和故障分类特征进行软划分。用递归最小二分法把目标电路的扇出锥集或目标故障集划分给2（k）（K为正整数）个处理机，使每个处理机负载平衡，且通讯开销最小。然后，在单处理机上建立模拟阵列机并行故障诊断的环境，并对处理机分别为2，4，8时的并行效率进行模拟实验。为此建立了集实验和实用为一体的单机诊断数据生成系统。该系统可接受四种常用描述语言，采用有限回测测试模式产生方法和宽度与深度动态交替优先的反向追踪策略生成测试向量，用静态测度引导测试生成，用动态测度和测度值与规则判定相结合的方法识别不可测故障，集成国际上先进的故障模拟器进行验证，规模高达四万门。