提高X射线荧光光谱理论强度计算准确度的研究

基本信息
批准号:29475218
项目类别:面上项目
资助金额:6.50
负责人:陶光仪
学科分类:
依托单位:中国科学院上海硅酸盐研究所
批准年份:1994
结题年份:1997
起止时间:1995-01-01 - 1997-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:吉昂,卓尚军,张中义
关键词:
理论强度计算定量分析X射线荧光光谱
结项摘要

X射线荧光(XRF)理论相对强度计算准确与否,是元素间吸收--增强效应校正好坏的关键所在。本项目对影响理论计算相对强度的诸因素进行了合面深入的研究,其中包括谱仪几何因子,X光菅原级谱强度分布,质量吸收系数和激发因子(荧光产额,谱线分数和吸收限因子)。在进行了四种常用质量吸收系数(MAC)算法之间及与实验值的比较,和用该四种MAC算法计算的理论相对强度与一系列精心制备的合成标样所测得的实际相对强度比较之后,提出了一个μ+τ的计算模式和一个混合的MAC算法。使理论计算与实测强度的符合率最好。最终导致XRF定量分析结果在缺乏相似标样或标样数很少时得到明显改善,计算的理论α系数也更为准确。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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