半导体的真空紫外光化学直接刻蚀研究

基本信息
批准号:69876034
项目类别:面上项目
资助金额:14.40
负责人:韩正甫
学科分类:
依托单位:中国科学技术大学
批准年份:1998
结题年份:2002
起止时间:1999-01-01 - 2002-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:郭其新,张国斌,王峰,赵飞云,石军岩,洪义麟
关键词:
真空紫外光光刻表面光化学反应
结项摘要

As a new technology, this project ended the synchrotron radiation(SR).act as unique photon source in ultraviolet radiation(VUV) excited direct etching field. A VUV photon-etching facility with hollow cathode lamp was constructed, which is much cheaper than that with synchrotron.radiation one. By this facility, a direct etching experiment on the group.of GaAs/Cl2+He was fulfilled.On the same machanism, a theoretic supper.hard C3N4 film was deposited by SR assisted CVD, which is area selected.and its effective photons range from soft x ray to VUV. All of such two.experiments are reported for first time

用120nm附近的真空紫外光,不需要光刻胶就能将掩模图型直接转移到半导体上。刻蚀精度瘸9孀贤夤饪炭商岣咭槐叮夜ひ毡茸贤夤饪碳虻ァJ窍乱淮硐氲奈⒌缱雍臀⒒抵圃旃ひ铡1鞠钅苛⒆阌谔剿鞔丝淌垂ひ眨芯堪氲继宓谋砻鎂UV化学反应机理,建立反应直接刻蚀的基本模型。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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